Spectroscopic Ellipsometer
光 谱 椭 偏 仪
膜层厚度,折射率,消光系数,褪偏因子
界面粗糙度,混合膜层比例,结晶度,不均匀分布
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RC/RC2/RA
SE
X-Y/X-ʘ
1s
光谱椭偏具有:单点测试速度约1 秒、笛卡尔/极坐标 2 种Mapping模式、RC/RC2/RA 3 种偏振结构、双光纤等性能。
标准单点测试速度约1秒,优化可至0.3秒/点
可拓展在线化、全自动化、远程化
经过广泛验证
一键完成厚度\折射率, NCS\Muller, 粗糙度等测试
我们提供各式光谱椭偏、激光椭偏、反射式光谱等检测仪器。
系科仪器(上海)有限公司