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SYSCOS INSTRUMENTS
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# 高效+简洁+易用 #光谱椭偏 # COSE EllipSometry
COSE 系列是系科仪器公司推出的光谱椭偏系统，具有卓越的整体设计及工业稳定性。系统标配了自动对焦系统、自动光选系统、相位补偿系统...
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最新技术
我们拥有关于光谱椭偏、穆勒矩阵椭偏、激光椭偏、反射式膜厚、硬度计体系、颜色/穿透/反射仪 等检测内容先进成熟的技术积累，且应用经验丰富，是一支强大的专业研发团队。
# 新一代椭偏软件系统 # Syscos ElliSpec 4.0
仅仅 Measure / Auto Focus / Auto intensity / Regress？？？ 仅仅 EMA / Dispersion / Roughness / Gradient / Anisotropic？？？ …… 新一代的ElliSpec 4.0已揭开面纱，5年心血汇聚而成。
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销售网络
我们正在为全球各大TFT-LED，OLED，科研院校，晶硅及薄膜电池等领域厂家提供膜层检测等方案，产品进入航天科工集团，京东方集团，厦门大学等一线单位并远销国内外。
# 在线多点 # 膜层检测，系科习作
光谱从不会错 。R-inline Series 采用光弹开关串联采集多测试点的反射率光谱，集成FFT快速膜厚定位引擎，并精确回归分析计算，最快速度可至100 Hz，最小光斑可至30 μm。
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系科团队
我们提供各式光学检测设备和服务，有诸多从事膜层检测研究超10年的应用工程师。
