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# 高效+简洁+易用  #光谱椭偏 # COSE EllipSometry

COSE 系列是系科仪器公司推出的光谱椭偏系统，具有卓越的整体设计及工业稳定性。系统标配了自动对焦系统、自动光选系统、相位补偿系统...



  

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  • 发表于 2020-03-07 19:30:00

推 荐 产 品
iMSE 穆勒椭偏
R10 膜厚仪
R30 膜厚仪
R-inline 膜厚仪
RISE 光谱椭偏




COSE 光谱椭偏
系 科 新 闻
R20 膜厚仪
LEM 激光椭偏
关 于 我 们


最新技术

我们拥有关于光谱椭偏、穆勒矩阵椭偏、激光椭偏、反射式膜厚、硬度计体系、颜色/穿透/反射仪 等检测内容先进成熟的技术积累，且应用经验丰富，是一支强大的专业研发团队。

# 新一代椭偏软件系统 # Syscos ElliSpec 4.0

仅仅 Measure / Auto Focus / Auto intensity / Regress？？？  仅仅 EMA / Dispersion / Roughness / Gradient / Anisotropic？？？ …… 新一代的ElliSpec 4.0已揭开面纱，5年心血汇聚而成。



  

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  • 发表于 2019-09-03 10:12:02


最新技术


销售网络

我们正在为全球各大TFT-LED，OLED，科研院校，晶硅及薄膜电池等领域厂家提供膜层检测等方案，产品进入航天科工集团，京东方集团，厦门大学等一线单位并远销国内外。
  

# 在线多点 # 膜层检测，系科习作

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  • 发表于 2018-12-29 12:15:35

光谱从不会错 。R-inline Series 采用光弹开关串联采集多测试点的反射率光谱，集成FFT快速膜厚定位引擎，并精确回归分析计算，最快速度可至100 Hz，最小光斑可至30 μm。


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  • 发表于 2018-03-29 18:18:45


系科团队

我们提供各式光学检测设备和服务，有诸多从事膜层检测研究超10年的应用工程师。
  

自 RISE-Zenith 发布以来，其优秀的工业设计，精致好用的系统得到了广大用户的认可，很多用户会使用它测出的数据发表高影响力的研究。





权威认可，RISE-Zenith 闪耀 ADVANCED MATERIALS

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贵宾云集，共襄盛举。作为中国大陆地区最大的半导体专业展览会，到访的专家、代理商以及客户共享上海系科成长的喜悦。5年间，我们只  Focus on thin film metrology，你正好需要，我正好专业。



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Focus on thin film metrology！Syscos @ Semicon China


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